स्पेक्ट्रोस्कोपिक एलिप्सोमीटर

हम अपने सभी भारतीय ग्राहकों को स्पेक्ट्रोस्कोपिक एलिप्सोमीटर के आपूर्तिकर्ता हैं। हमारा उत्पाद एक अत्यधिक संवेदनशील ऑप्टिकल मापन तकनीक है जिसका उपयोग पतली परत के ढेर का विश्लेषण करने के लिए किया जाता है। और यह अवलोकन पर आधारित है कि पतली परत की सतह से परावर्तित ध्रुवीकृत प्रकाश का उपयोग मोटाई और अन्य ऑप्टिकल मापदंडों की गणना करने के लिए किया जाता है। विभिन्न अनुसंधान संस्थानों में ग्राहकों द्वारा उत्पादों की बहुत सराहना की जाती है।

विशेषताएं:

• उच्चतम सटीकता और संवेदनशीलता
• मॉड्यूलर डिजाइन;
• लेपित मोटाई/सतह खुरदरापन, अनिसोट्रॉफी/क्रिस्टलीयता आदि
• सतह और इंटरफ़ेस खुरदरापन
• माप, मॉडलिंग और स्वचालित संचालन के लिए पूरी तरह से एकीकृत सॉफ्टवेयर पैकेज
म्यूएलर मैट्रिक्स डीपोलराइजेशन

विशेष विवरण: <

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• पतली फिल्म की मोटाई: 1... से 30 âµM
• बड़ी स्पेक्ट्रल रेंज: 240 - 800nm - 2100