सेमी-ऑटोमैटिक Qt200nxg कॉम्बिनेशनल बोर्ड टेस्टर

हम अपने उपभोक्ताओं को QT200NXG कॉम्बिनेशनल बोर्ड टेस्टर प्रदान कर रहे हैं। इसके अलावा, इसमें वर्चुअल पिन टेस्ट के लिए बाउंड्री स्कैन टेस्ट का विकल्प है, जहां वर्चुअल टेस्ट पिन की संख्या की कोई भौतिक सीमा नहीं है। इसकी मूल समय इकाई 125ns है और इस प्रकार यह 8MHz डेटा दर पर परीक्षण पैटर्न उत्पन्न कर सकती है। टाइमिंग इकाइयां 2048 चरणों में प्रोग्राम करने योग्य हैं, जिससे सटीक पैटर्न टाइमिंग की अनुमति मिलती है। QT200NxG इन-सर्किट फंक्शनल टेस्ट कर सकता है, पिन स्टेटस चेक के साथ इन-सर्किट या आउट-ऑफ-सर्किट में अलग-अलग एलसी का परीक्षण कर सकता है और इसमें इन-बिल्ट DRC (डिज़ाइन रूल चेकर) है। QT200NxG अपनी लाइब्रेरी में चिप के अन्य फ़ंक्शन के व्यवहारिक विवरण में IEEE मानक VHDL भाषा का उपयोग करता है। एनालॉग/मिक्स्ड सिग्नल डिवाइसेस के लिए, प्रोत्साहन और आउटपुट मूल्यांकन के लिए पायथन टीडी टेस्ट भाषाओं पर आधारित स्क्रिप्ट उपलब्ध हैं।