उपयोगकर्ता के अनुकूल वेल्डिंग प्रवेश निरीक्षण प्रणाली

बैनब्रोस आपको उपयोगकर्ता के अनुकूल सॉफ़्टवेयर की मदद से सभी प्रकार के वेल्ड नमूने में एक तस्वीर देखने और तुरंत कैप्चर करने और सटीक वेल्ड प्रवेश गहराई को मापने के लिए विशेष रूप से डिज़ाइन उच्च रिज़ॉल्यूशन माइक्रोस्कोप और यूएसबी डिजिटल माइक्रोस्कोपिक कैमरा के साथ वेल्ड प्रवेश निरीक्षण की सबसे अग्रिम प्रणाली प्रदान करता है। सिस्टम का उपयोग सभी आयामी माप (2D) जैसे लंबाई, दूरी, त्रिज्या व्यास आदि को मापने के लिए किया जा सकता है। तकनीकी विनिर्देश: - - आवर्धन सीमा: 7X से 45X - ज़ूम आवर्धन की उद्देश्य सीमा: 0.7X ~ 4.5X - ऐपिस फ़ील्ड चौड़ा और स्पष्ट है: 10X (फ़ील्ड का आकार: 20 मिमी) - बिजली की आपूर्ति उपकरण के आधार से बाहर है - रोशनी का चयन और चमक समायोजन का तरीका बहुत आसान है, इसमें तीन मोड हैं: प्रेषित प्रकाश, परावर्तित प्रकाश और मिश्रित प्रकाश रोशनी।